索尼发布工业设备用SWIR图像传感器5微米像素尺寸
5月17日消息,据国外媒体报道,索尼日前宣布,发布两款用于工业设备的新型短波红外(以下简称SWIR)图像传感器。
图片来自索尼官网
新款传感器能够在红外短波范围内,捕捉在可见光和不可见光光谱中的影像,并采用5微米像素尺寸,整体尺寸小巧紧凑。
索尼介绍称,新款传感器采用索尼原发的SenSWIR技术:在铟砷化镓(InGaAs)化合物的半导体层上构建光电二极管;二极管之间则通过带有硅涂层的铜-铜连接相连,形成一个读出电路——这样的设计可以保持对宽广范围波长的高灵敏度。
这一技术突破催生了此次发布的新型SWIR图像传感器,它结构紧凑,但能够在较大的波长范围中捕获影像,包括短波红外波段的可见和不可见光谱(波长范围:0.4微米至1.7微米)。
索尼表示,此次发布的新款传感器采用堆叠技术,加持索尼多年来研发的铜-铜连接与索尼原发的SWIR图像传感器技术,通过像素小型化,实现了高质量成像和更紧凑的传感器尺寸,在覆盖可见和不可见光的广泛波长范围内均可做到高灵敏度成像。新传感器还支持数字输出,并提供与目前工业CMOS图像传感器相同的性能。
索尼称,将努力把这些产品结合到广泛的工业应用中,如材料筛选、污染物监测及半导体监测,以提高生产率。
【来源:Techweb】【作者:宋星】